频闪仪的工作原理
是根据设定的频率或根据外触发频率来控制闪光灯的闪烁频率 ,作为一个完整的系统包括人机显示界面、 调节和功能选择按键、 闪光控制模块、 闪光灯供电模块和外触发自动跟踪模块等。
在系统设计中,采用 LED数码管作为人机显示界面。频闪仪LED显示具有高亮、 长寿命、控制方便等特点 ,只要保证驱动电路的可靠性 ,就可以保证人机界面的长期工作的稳定性。参数设定或功能选择方面 ,采用高可靠性的欧姆龙轻触按键和具有快速调节功能的旋转编码器作为数据输入元件 ,配以合理的软件来提高参数设定的速度和方便性。作为一个使用比较方便的产品 ,必须具有参数保存的功能 ,在这里采用了非易失性存储器 ,存放频率、 频闪仪工作模式等参数。
频闪仪详细资料可产看:http://www.shimpo-shop.cn/category-2-b0.html
改善电压质量的措施有哪些?
(1) 改善用电功率因数,使无功就地平衡。
(2) 合理选择供电半径。
(3) 合理选择供电系统线路的导线截面。
(4) 合理配置变、配电设备,防止其过负荷运行。
(5) 适当选用调压措施,如串联补偿、变压器加装有载调压装置、安装同期调相机或静电电容器等。http://www.powerq.com.cn/
日本新宝张力计特点介绍
日本新宝张力计特点介绍
1.日本新宝张力计是一种便携式电子数字测量仪器,能精确地测量张力及系统地处理测量数据,关于张力计的详细资料可查看:http://www.1718web.net/zhangliji/
2.张力计可以测五种不同的金属丝:1.细线,2.钢线,3.铜线和其他两种标本金属丝。通过结合使用设置开关,金属丝型号选择开关或范围调整开关实现转变。
3.张力计可精确度达1%
4.自动存储最大值,最小值,峰值,最终值,可存储100个数据
5.可选更新时间 0.5,1,2,4秒都可选择。为了使显示器稳定,这个功能是很有价值的。(张力计出厂前预设值为1秒)
6.铝制包装防震动、放静电
7.张力计测量范围200gf到20kgf;每种模式都适用于各种类型;
关于张力计的详细资料可查看:hhttp://www.shimpo-shop.cn/category-3-b0.html
超声波清洗器工艺技术原理
超声波清洗器的原理由超声波发生器所发出的高频振荡讯号,通过换能器转换成高频机械振荡而传播到介质–清洗溶液中,超声波在清洗液中疏密相间地向前辐射,使液体流动而产生数以万计的微小气泡,这些气泡在超声波纵向传播成的负压区形成、生长,而在正压区迅速闭合,在这种被称之为”空化”效应的过程中气泡闭合可形成超过1000个气压的瞬间高压,连续不断产生的高压就象一连串小”爆炸”不断地冲击物件表面,使物件表面及缝隙中的污垢迅速剥落。从而达到物件全面洁净的清洗效果。超声波清洗器对任何物件的材质及精度不受影响。
1.什么是超声波:
所谓超声波,是指人耳听不见的声波。正常人的听觉可以听到16-20千赫兹(KHZ)的声波,低于16千赫兹的声波称为次声波或亚声波,超过20千赫兹的声波称为超声波。
2.超声波清洗器超声波的产生:
超声波的两个主要参数:
频率:F≥20KHz;
功率密度:p=发射功率(W)/发射面积 (cm2);通常p≥0.3w/cm2.
在液体中传播的超声波能对物体表面的污物进行清洗,其原理可用“空化”现象来解释:超声波振动在液体中传播的音波压强达到一个大气压时,其功率密度为0.35 w/cm2,这时超声波的音波压强峰值就可达到真空或负压,但实际上无负压存在,因此在液体中产生一个很大的力,将液体分子拉裂成空洞一空化核。此空洞非常接近真空,它在超声波压强反向达到最大时破裂,由于破裂而产生的强烈冲击将物体表面的污物撞击下来。这种由无数细小的空化气泡破裂而产生的冲击波现象称为“空化”现象。
指针式张力计原理:
当土壤变干,与陶瓷头接触的湿度表面张力势趋于将管内的水分吸出. 从而在管内顶部形成局部真空,当灌溉或降雨后,水分被吸回管内使真空度减少。通过负压计将真空度转化为直观的土壤水势。
指针式张力计优点:
物美价廉 仪表毋需标定和置零 仅需少量维护便可多年可靠使用 耐侯性聚碳酸酯探管,强度高,寿命长 各部件均可拆卸,易于更换维护
指针式张力计主要部件:
指针式负压计 张力计管 可另将指针式负压计换成压力传感器,直接输出水势电信号,方便连接至数采。
指针式张力计基本技术指标:
标准长度:15-120 cm(可以根据客户要求定制)
标准长度指张力计管中段透明聚碳酸酯负压管的长度
测量范围:1Bar(1Bar=100KPa)
张力计 详细资料可查看:http://www.shimpo-shop.cn/category-3-b0.html
SHTEK系列超声波清洗器使用说明书
一. 产品简介
二. 产品特点
三. 适用范围
四. 脉冲调制型超声波清洗器特点
五. SHTEK超声波清洗器规格指标
六. SHTEK超声波清洗器功能控制示意图
七. SHTEK超声波清洗器操作方法
八. 注意事项
九. 故障处理
十. 放水阀连接示意图
一. 产品简介
超声波清洗器是一种无污染、无损伤、多用途的清洗设备。超声波的空化效应使液体产生大量的微小气泡,在气泡快速形成和消失的物理过程中,液体微粒发生每秒数十万次的激烈碰撞,产生强大能量,从而不但能对形状复杂的物体起到超净的清洗作用,而且还能起到加速溶解和乳化的作用。气泡不断集聚后与液体分离,使脱气效果也非常显著。因此,被广泛应用于机械、电子、医药、化工等行业。
我公司开发生产的SHTEK系列超声波清洗器,是在充分吸收国外先进经验的基础上加以改进和创新后的新一代产品,功能及使用效果均已达到国外同类产品水平。
二. 产品特点
功率大而平稳,且可调节,适应不同的清洗对象。
电子定时(20min)、机械定时(30min)或连续使用。
优质不锈钢水槽、防腐喷涂铝外壳及防腐注塑外壳。
备有快捷除气调节,操作方便。
规格齐全,异型定做。
高频超声波(60Kz)使工作噪音更小,清洗更精细。
三. 适用范围
SHTEK系列超声波清洗器广泛应用于电子器件、半导体硅片、电路板、电镀件、光学镜片、音频磁头、化纤喷丝头、打印机喷墨、医疗器械、手术器械、玻璃器皿、照相器械、通讯器械、金银首饰、精密机械零件的清洗是最理想的设备。同时在生化、化学、医学广泛应用。本公司生产的超声波清洗器,超声功率从60W至2500W,容量由2升至160升,超声频率有多种频率可选择,并根据用户要求设计生产各种行业的非标专用清洗设备。
超声波清洗器工作原理
数字集成电路功能测试仪存在的严重问题
集成电路(下称IC)的测试问题逐渐显露出来。苹果机数字集成电路测试(下称“数字IC测试”)卡,与苹果机一起构成所谓的“个人测试仪”,是这一时期最具代表性的数字IC功能测试仪之一。其实它完全是一种为了配合苹果机销售而制作的“业余测试”仪。它的出现使得计划经济体制下,许多希望购买计算机的单位,找到了购买计算机的借口;但真正希望对数字IC进行有效测试的单位,很快发现此类IC功能测试仪毫无使用 价值!然而,此种“业余测试”的数字IC测试仪依然传承至今,数字IC功能测试仪价格低廉是其得 以传承的主要原因。集成电路测试仪
数字IC(直流参数)测试仪一般应该具备三个基本部分:测试图形发生器、管脚电路及各种测 试所必备的测试基准源。它的特点是测试IC输入、输出端的电压、电流及电源端功耗电流,同时完成数字IC的真值表功能测试。集成电路测试仪
数字IC功能测试仪的特点是:对数字IC仅仅进行真值表功能测试。由于数字IC功能测试仪,不 具备直流参数测试的基础(无测试基准源等),因此只能进行一些简单的逻辑测试,即IC输出端的 “0”、“1”测试,而“0”、“1”如何定义?当负载电流变化时“0”、“1”的变化范围是否合理?这些都无法确定,而这是IC测试者所关心的。集成电路测试仪
另一方面IC是由输入、输出及电源端组成,此三类端口在使用过程中是互相制约的相互影响的。
由于功能测试仪不能对IC输入端及电源端测试(不测直流试参数),因此功能测试将产生严重问题.集成电路测试仪
概述集成电路测试仪发展
集成电路测试是保证集成电路性能、质量的关键手段之一。集成电路测试技术是发展集成电路产业的三大支撑技术之一。因此,集成电路测试仪(或测试系统,下同)作为一个测试门类受到很多国家的高度重视。40年来,随着集成电路发展到第四代,集成电路测试仪也从最初测试小规模集成电路发展到测试中规模、大规模和超大规模集成电路,到了八十年代,超大规模集成电路测试仪进入全盛时期。
集成电路测试仪的发展过程可以粗略地分为四个时代。第一代始于1965年,测试对象是小规模集成电路,可测管脚数达16只。用导线连接、拨动开关、按钮插件、数字开关或二极管矩阵等方法,编制自动测试序列,仅仅测量IC外部管脚的直流参数。第二代始于1969年,此时计算机的发展已达到适用于控制测试仪的程度,测试对象扩展到中规模集成电路,可测管脚数24个,不但能测试IC的直流参数,还可用低速图形测试IC的逻辑功能。这是一个飞跃。第三代始于1972年,这时的测量对象扩展到大规模集成电路(LSI),可测管脚数达60个,最突出的进步是把功能测试图形速率提高到10MHz。从1975年开始,测试对象为大规模、超大规模集成电路(LSI/VLSI),可测管脚剧增到128个,功能测试图形速率提高到20MHz。不但能有效地测量CMOS电路,也能有效地测量TTL、ECL电路。此时作为独立发展的半导体自动测试设备,无论其软件、硬件都相当成熟。1980年测试仪进入第四代,测量对象为VLSI,可测管脚数高达256个,功能测试图形速率高达100MHz,测试图形深度可达256K以上。测试仪的智能化水平进一步提高,具备与计算机辅助设计(CAD)连接能力,利用自动生成测试图形向量,并加强了数字系统与模拟系统的融合。有些系统实现了与激光修调设备连机工作,对存储器、A/D、D/A等IC芯片进行修正。从1970年仙童(Fairchard)公司形成Sentry系列以来,继而形成系列的还有泰克(Tektronix)公司的3200系列,泰瑞达(Teradyne)公司的A380系列、A300系列、日木安藤电气(Ando Electron)的8000系列、爱德万(Aduantest)的T3100、T320、T3700系列以及美国Megatest公司的Q-11系列,都取得较好的效益。
现在,测试仪的功能测试速率已达500MHz以上,可测管脚数多达1024个,定时精度±55ps,测试仪的发展速度是惊人的。
我国在70年代初就开始了集成电路测试仪的研制工作,80年代后期国产集成电路测试仪的水平,特别是自行设计能力有较大提高,测试理论、测试方法、测试系统的研究试验工作受到国家重视,初步形成一支科研、设计、制造的技术队伍。国内研究或制造集成电路测试仪的研究所与工厂主要有中国科学院计算技术研究所、半导体所、北京自动测试技术研究所、光华无线电仪器厂(767厂)、北京无线电仪器厂、北京科力公司等。1986年科学院计算技术研究所研制成功ICT-2 LSI/VISI综合测试系统,功能测试速率10MHz/20MHz,通道数48(128),OTA(系统总定时精度)±2ns。1987年北京自动测试技术研究所研制成功BC3170存储器测试系统,功能测试速率20MHz,通道数32个。同期光华无线电仪器厂推出GH3123型集成电路自动测试仪,北京自动测试技术研究所BC3110X型集成电路测试仪研制成功。这两种采用CAT技术的中小规模集成电路测试系统,标志着国产中小规模集成电路测试仪的技术水平进入新的发展时期和走向实用阶段。继而北京科力公司研制和生产测试速率12.5MHz、64通道大规模数字集成电路测试系统。此后不久,光华无线电仪器厂又研制成功功能测试速率为10MHz的16M位RAM存储器测试仪,大规模测试系统获得长足的发展。
1996年,由北京自动测试技术研究所、国营光华无线电仪器厂、中科院计算技术研究所联合研制成功3190数字集成电路大型测试系统,测试速率 40MHz,通道数64个,定时精度±750ps,达到八十年代中后期国际先进水平,国产集成电路测试仪上了一个新台阶。
国产集成电路测试仪虽有一定的发展,但与国际水平仍存在较大差距。市场上各种型号国产测试仪,中小规模占80%,只有少数采用计算机辅助测试。大规模IC测试系统ICT-2、BC3170、3190类大系统,由于价格、可靠性、实用性等因素导致没有实用化。因此,大规模IC测试系统主要依靠进口解决国内的科研、生产与应用测试。
集成电路测试仪按测试门类可分为数字集成电路测试仪、存贮器测试仪、模拟与混合信号电路测试仪,在线测试系统和验证系统等。由于这些测试仪的测试对象、测试方法以及测试内容都存在差异,因此各系统的结构、配置和技术性能差别较大。