电容器运行允许过电流

2010年07月12日 3:13 上午  |  分类:电能质量分析仪

电能质量分析仪电容器组允许在其1.3倍额定电流下长期运行(日本,美国,德国和比利时进口的电容器允许在1.35倍额定电流长期运行).通过电容器组的电流与端电压成正比,该电流包括最高允许工频过电压引起的过电流和设计时考虑在内的电网高次谐波电压引起的过电流,因此过电流的限额较过电压的高.电能质量分析仪电容器组长期连续运行允许的过电流为其额定电流的1.3倍,即运行中允许长期超过电容器组额定电流的30%,其中10%是工频过电压引起的过电流,还有20%留给高次谐波电压引起的过电流电能质量分析仪.

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绝缘放电(DD)测试法

2010年07月10日 9:12 上午  |  分类:未分类

绝缘电阻测试仪绝缘放电测试也被称为再吸收电流测试,是通过测量被测设备上绝缘体放电电流的一种方法.

在标准绝缘测试中,所有三个电流组成部分(电容充电电流、极化电流和泄漏电流)都存在,极化电流或吸收电流的检测可能会受到泄漏电流的影响.不是在绝缘测试中试着测量极化电流,取而代之的是绝缘放电(DD)测试方法,在绝缘测试后测量去极化电流和电容充电电流.

绝缘电阻测试仪测量方法如下:先对被测设备充电至稳定状态(电容充电和极化已完成,只剩下泄漏电流).然后被测设备通过兆欧计内的一个电阻器放电,并且测量这个电流.这个电流就是总电介质放电电流,由电容充电电流和再吸收电流组成.这个电流是在标准时间1分钟后测得的电流.这个电流取决于全部电容和最后测量电压.DD数值的计算公式如下:

DD=电流1分钟后/(测试电压×电容)

当多层次绝缘体其中一层损坏或者污染时,绝缘放电测试可以确定过量的放电电流事故.使用抽查或PI和DAR测试,一个绝缘缺陷可能被忽略.如果绝缘层中的一层受损了,由于给定的电压和电容,放电电流可能比较大.个别层次的时间常数将不再匹配它的其他层次,比起一个为损坏的绝缘体将导致一个更高的电流值.绝缘层均质的绝缘体的DD值将接近于零,而可接受的多层次绝缘体的最大DD数值不超过2.下表显示了根据获得的DD值判断的绝缘情况,绝缘电阻测试仪.

 

DD值 绝缘状况
>7 极差
4~7 不好
2~4 有问题的
<2 好的

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绝缘放电(DD)测试法

2010年07月10日 9:12 上午  |  分类:未分类

绝缘电阻测试仪绝缘放电测试也被称为再吸收电流测试,是通过测量被测设备上绝缘体放电电流的一种方法.

在标准绝缘测试中,所有三个电流组成部分(电容充电电流、极化电流和泄漏电流)都存在,极化电流或吸收电流的检测可能会受到泄漏电流的影响.不是在绝缘测试中试着测量极化电流,取而代之的是绝缘放电(DD)测试方法,在绝缘测试后测量去极化电流和电容充电电流.

绝缘电阻测试仪测量方法如下:先对被测设备充电至稳定状态(电容充电和极化已完成,只剩下泄漏电流).然后被测设备通过兆欧计内的一个电阻器放电,并且测量这个电流.这个电流就是总电介质放电电流,由电容充电电流和再吸收电流组成.这个电流是在标准时间1分钟后测得的电流.这个电流取决于全部电容和最后测量电压.DD数值的计算公式如下:

DD=电流1分钟后/(测试电压×电容)

当多层次绝缘体其中一层损坏或者污染时,绝缘放电测试可以确定过量的放电电流事故.使用抽查或PI和DAR测试,一个绝缘缺陷可能被忽略.如果绝缘层中的一层受损了,由于给定的电压和电容,放电电流可能比较大.个别层次的时间常数将不再匹配它的其他层次,比起一个为损坏的绝缘体将导致一个更高的电流值.绝缘层均质的绝缘体的DD值将接近于零,而可接受的多层次绝缘体的最大DD数值不超过2.下表显示了根据获得的DD值判断的绝缘情况,绝缘电阻测试仪.

 

DD值 绝缘状况
>7 极差
4~7 不好
2~4 有问题的
<2 好的

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基于不同电压的测试方法(步进电压测试)

2010年07月9日 6:21 上午  |  分类:未分类

绝缘电阻测试仪污染物的存在(灰尘,污垢等)或绝缘体表面的水汽这类问题经常会被按时的绝缘电阻测试(PI、DAR等)清楚地显示出来.然而,只施加一个比介电强度测试稍低的电压,绝缘老化或机械损伤有时可能会被上述两种测试方法忽略.反之,显著增加测试电压可能引起绝缘薄弱点失效,导致绝缘电阻值大幅下降.

    绝缘电阻测试仪为使其有效,两步进电压之间的比例应为1至5,且每一步进电压需持续同样的时间(通常为1至10分钟),虽然仍低于介电强度测试电压(2Un+1000V).这种方法测得的结果完全不依赖于绝缘类型和温度,因为这种方法不是基于绝缘材料内在阻值测量的.但是在相同时间内使用不同测试电压后,有效减少了读数,

    第一步进和第二步进测得的绝缘电阻阻值下降25%或更多时,表明绝缘材料由于污染物导致绝缘退化绝缘电阻测试仪.

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可控硅式电容柜(新式)

2010年07月9日 4:59 上午  |  分类:电能质量分析仪

电能质量分析仪使用两个反并联的可控硅控制三相角接的电力电容器,使用过零触发模块,当系统中欠补(系统中感性无功大于容性无功)时,该模块接受触发命令后,能自动捕捉可控硅两端电压,当电压为2V~6V时,触发可控硅,使可控硅导通投入电容器.产生的涌流仅为电容器额定电流的1.5~1.7倍,可控硅式电容柜由于控制了其导通时两端的电压,所以很好地控制了涌流.电能质量分析仪

由于是两个反并联的可控硅组成可控硅模块,一个可控硅在电压波形的上半周导通,另一个在下半周导通.当系统中过补(系统中容性无功大于感性无功)时,过零触发模块接收不到触发命令,可控硅会自然关断,而且速度快.由于不存在触点,无电弧重燃现象,电网电压与电容器端电压产生不了迭加,从而很好地控制了过电压电能质量分析仪.

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电介质吸收比(DAR)

2010年07月8日 2:55 上午  |  分类:未分类

绝缘电阻测试仪电介质吸收比(DAR)

对于某些包含绝缘材料的设备和装置来说,其吸收电流的下降非常快,绝缘测量在30秒和60秒后就足以满足要求.电介质吸收比定义如下:

DAR=R60秒绝缘值/R30秒绝缘值

绝缘电阻测试仪结果评估见下表:

DAR值 绝缘状况
<1.25 不足
<1.6 好的
>1.6

优秀的

快速或点读测量2

2010年07月7日 2:19 上午  |  分类:未分类

绝缘电阻测试仪下图显示了一个电动机绝缘电阻随时间变化的案例.

在A点,由于老化和灰尘的积聚,绝缘电阻逐渐下降.
在B点的骤降,表明有一个绝缘故障.
在C点,故障被修复(电机重新绕线),所以绝缘电阻回到一个较高的数值,并且随着时间推移保持稳定,表明在一个比较好的状况下,绝缘电阻测试仪.

绝缘电阻测试仪这些方法是在一段规定时间内对绝缘电阻进行连续测量.它们的优势是不受温度的影响,只要被测设备在测量过程中,温度没有急剧的变化,其测得的结果就能被使用而无需校正.

针对旋转机械的预防性维护和日常监测,它们是理想的绝缘电阻测试方法.

如果绝缘材料的情况良好,那么泄漏电流就会很低,并且最初的测试会被电容充电电流和电介质吸收电流严重影响.当测试电压持续施加时,由于干扰电流的减小,绝缘电阻测量值会上升.在好的状况下测量绝缘电阻所需的稳定时间取决于绝缘材料的类型.

绝缘电阻测试仪如果绝缘材料状况不好(受损的,脏的,潮湿的),泄漏电流就会恒定的而且非常高,经常超过电容充电电流和电介质吸收电流.在这种情况下,绝缘电阻测试在一个高电压下将很快变得稳定.

根据测试电压施加的时间,可以检验绝缘阻值的变化.这样就可以评估出绝缘体的质量.这种方法甚至可以在没有绝缘测试记录的情况下推断出结论.尽管如此,在定期检修计划中定期进行绝缘电阻测试并记录还是合理的方法绝缘电阻测试仪.

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快速或点读测量1

2010年07月6日 3:09 上午  |  分类:未分类

   绝缘电阻测试仪这是最简单的绝缘电阻测试方法.给被测对象施加一个短时间(30秒或60秒)的测试电压,并注意在那时刻读取电阻的数值.如先前说明的,这样直接测量绝缘电阻意味着结果受到温度和湿度的影响,所以这个测量必须在标准化的参考温湿度下进行,并且注意比较之前的测量结果.使用这个方法,就可以通过比较前几次测量的电流值来分析当前的绝缘质量.这一趋势随着时间的推移,能更清楚地将设备和装置绝缘性能的变化表现出来,比单一的测试更具代表性.

    绝缘电阻测试仪如果测量条件保持相同(相同的测试电压,相同的测试时间等),就可以获得对于绝缘监测的一个清晰评估,并且诠释在定期测量中的任何变化.通过关注电阻的绝对值,其随时间变化的过程可以被分析出来.然而理论上来说,一个随时间推移其阻值出现显著下降的案例,相比于一个低阻值但是相对稳定的案例,更容易被关注,即使其下降后的阻值仍高于推荐的最低阻值.一般而言,绝缘电阻的突然下降表明出现了一个需要调查的问题绝缘电阻测试仪.

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http://www.5i17.com.cn/clabraList81-50.htm

绝缘材料中电流总量的三个组成部分:

2010年06月30日 9:08 上午  |  分类:未分类

绝缘电阻测试仪电容充电电流:绝缘充电电流必须先充满被测绝缘材料的电容.这个瞬时电流开始时相对较大,一旦对被测电路充电完毕后又以指数级的速度下降至趋近于零的数值.几秒或十几秒后,这个电流相对于被测电流来说可以忽略不计.

 吸收电流:吸收电流是绝缘材料分子需要重新调整至相应测试要求的电场效应下所提供的一种额外能量.吸收电流的下降速度比起电容充电电流来要慢很多,有时需要几分钟才能达到一个趋近于零的数值.

 泄漏电流:泄漏电流或称为极化电流.这个电流表明了绝缘质量及保持稳定的时间.

   非常大的电机或非常长的电缆可能要30至40分钟才能使电容充电电流和吸收电流降至足够小,使得绝缘测试获得一个正确的结果.绝缘电阻测试仪
    在电路中施加一个稳定的电流,被测绝缘材料中的总电流随时间变化而变化.这意味着绝缘电阻也会随着时间推移而发生显著的变化.

温度的影响:

    温度变化使得绝缘电阻的数值类似于指数化变化.在预防维护计划中,绝缘电阻的测试必须在相近的温度条件下进行,如果达不到这个条件,应该设置一个参考温度作为基准并予以修正.按照粗略的准则,如果温度上升10℃,电阻值下降为参考温度点阻值的一半;如果温度下降10℃,则阻值为参考值的2倍.

    湿度对绝缘电阻的影响要看绝缘体表面的污浊度.但一定要注意,绝不可以在温度降至露点以下进行绝缘电阻的测量,绝缘电阻测试仪.绝缘电阻测试仪

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绝缘电阻测试的原理

2010年06月29日 10:24 上午  |  分类:未分类

    绝缘电阻测试是基于欧姆定律的.通过注入一个直流电压,这个电压远低于介电强度测试的电压,然后测量出电流,就非常容易计算出电阻值了,绝缘电阻测试仪.

    原则上,绝缘电阻的阻值非常大,但不是无限大,所以通过测量低电流,兆欧计可以显示绝缘电阻的阻值,其结果通常是kΩ、MΩ、GΩ,有些情况下甚至可以达到TΩ.这个电阻值表示了两个导体之间的绝缘质量并且显示了漏电流的风险.

    绝缘电阻测试仪许多因素影响绝缘电阻的阻值,因此电流值是通过在被测电路施加一个恒定电压得到的.这些例如温度或湿度的因素,可能会严重影响测量结果.首先我们分析一下绝缘测试时的电流性质,并假设这些因素不会影响测量.

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